S E M I N A R
VA-NR 10-20-04
Zuverlässigkeitstechnik
- als systematische Absicherung der Produktlebensdauer
- als Kostenoptimierungsfaktor
Teilnehmerkreis
Mitarbeiter aus den Bereichen
- Qualitätssicherung
- Entwicklung
- Technischer Einkauf
- Technischer Vertrieb
Referenten |
Folgender erfahrene Fachexperte steht Ihnen zur Verfügung |
| Dr.-Ing. Dipl.-Kfm. Patrick
Jäger Jäger & Hitziger GmbH, Beratungsgesellschaft für Produktzuverlässigkeit, Stuttgart |
Seminar-Schwerpunkte
- Einführung
- Abgrenzung: Qualität und Zuverlässigkeit
- Die Badewannenkurve
- Zuverlässigkeit im Robust Design Konzept
- Praktische Übung und erste Erkenntnisse
- Abgrenzung: Qualität und Zuverlässigkeit
- Mathematische Behandlung der Zuverlässigkeit
- Stress-strength Interference
- Wöhlerlinie
- Praktische Herleitung der Zuverlässigkeitskenngrößen anhand von
Histogrammen
- Ausfalldichte und -wahrscheinlichkeit, Zuverlässigkeit und Ausfallrate
- Notwendige statistische Größen ( Lage und Streuungsmaße)
- Bestimmung der Zuverlässigkeitskenngrößen anhand eines Beispiels
- Vom Histogramm zur Lebensdauerverteilung
- Vorstellung der wesentlichen Lebensdauerverteilungen
(Weibull, Exponential, Lognormal und Normal)
- Genaueres Kennenlernen der Weibullverteilung
(Datenauswertung im Weibull-Netz)
- Bestimmung der Weibullgerade anhand eines Beispiels
- Exkurs: Erläuterung einiger Zuverlässigkeits-Spezifikationsgrößen
- Kennenlernen des Themas „Vertrauensbereich“
- Einflüsse auf den Vertrauensbereich
- Selbständige Bestimmung des Vertrauensbereichs anhand eines
Beispiels
- Die ausfallfreie Zeit – ein Spezialthema
- Grundlegendes zum Thema „Systemzuverlässigkeit“
- Ableitung der Systemzuverlässigkeit für serielle, parallele und gemischte
Strukturen
- Methodische Lebensdauerberechnung bei Maschinenelementen
- Belastung, Belastbarkeit
- Lastkollektive
- Lebensdauerberechnung mittels Schadensakkumulation
- Belastung, Belastbarkeit
- Berechnung reparierbarer Systeme
- Instandhaltungsstratgie
- Verfügbarkeit
- Life-Cycle Costing
- Berechnungsmodelle für reparierbare Systeme
- Modellierung komplexer Strukturen mit Petri-Netzen und Simulation
mittels Monte Carlo
- Beispiel einer Lagerhaltungsstrategie
- Instandhaltungsstratgie
- Systemzuverlässigkeit
- ABC-Analyse
- Funktionsblockdiagramm, Schnittstellenproblematik
- Bestimmung der Systemzuverlässigkeit
- Vorgehensweise bei der Optimierung der Zuverlässigkeit bzw.
Senkung der zuverlässigkeitsneutralen Systemkosten
- Übung zur Wechselwirkung Kosten - Zuverlässigkeit
- ABC-Analyse
- Fehlerbaumanalyse
- Fehlerbaum und FMEA
- Quantitative Fehlerbäume
- Umsetzung einer Funktionsbeschreibung in einen Fehlerbaum anhand
einer Übung
- Einsatzgrenzen von Fehlerbäumen
- Berechnung von Fehlerbäumen anhand einer Übung
- Fehlerbaum und FMEA
- Methoden der Zuverlässigkeits-Testplanung
- Testplanung auf Basis Weibull-Verteilung und Binomial-Verteilung
- Lebensdauerverhältnis
- Verallgemeinerung für Ausfälle während des Tests
- Bayes Ansatz
- Berücksichtigung von Vorkenntnissen
- Beschleunigte Lebensdauerprüfung (Step-Stress, HALT)
- Testplanung auf Basis Weibull-Verteilung und Binomial-Verteilung
- Zuverlässigkeits-Methoden in der Verifikationsphase
- Vollständige Versuche ohne Zeitraffung
- Möglichkeiten zur Reduzierung des Prüfaufwandes
- Zensierte Ausfalldaten
(Sudden-Death, Johnson- und Nelson-Methode)
- Zuverlässigkeitswachstum
- Lebensdauerhochrechnung aus Verschleißgrad
- Vollständige Versuche ohne Zeitraffung
- Zuverlässigkeits-Managementsysteme
- Notwendigkeit eines Zuverlässigkeits-Managementsystem
- Total Cost of Ownership Vereinbarungen
- Lebensdauermodellbildung
- Aktuelle Strategien (Feldsensorik)
- Notwendigkeit eines Zuverlässigkeits-Managementsystem
Copyright 1997 - 2012 DIF Deutsches
Industrieforum für Technologie
Durchführungsort
D-76332 Bad HerrenalbTREFF HOTEL BAD HERRENALB
Termin
28. und 29. September 2010Zeitrahmen
2 TageZeitplan
1. Tag 09.00 - 18.00 Uhr2. Tag 08.00 - 16.00 Uhr
Teilnehmerpreis
980,- EUR + MwSt.Veranstalter
Deutsches Industrieforum für TechnologiePostfach 10 02 15
D-47879 Kempen
Tel.
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Internet
E-Mail
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